荧光X线分析装置
能量色散型X射线荧光分析仪
不仅能对应RoHS、ELV、更能测量环境管理中的产品、零部件中的有喜物质的含有量，最适合数据管理。
用途一例
● 焊接、合金、非铁金属的主要成分及不纯物分析
● 土壤、排水的元素分析
● 涂料、橡胶、玻璃、塑料的元素分析
● 测量各种电子部件的镀金厚度•组成
● 有害物质的定量
● 各种食品中的异物分析
主要规格
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测定原理 |
X射线荧光分析法 |
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测定方法 |
能量色散型 |
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测定对象 |
固体、液体、粉末 |
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测定范围 |
13AI-但U |
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样品室尺寸 |
最大W370 mm x D321 mm x H155mm |
检测器
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类型 |
Si(Li)半导体检测器 |
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液氮供应 |
只在测定时 |
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杜瓦瓶容量 |
3升 |
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液氮消耗量 |
1升/日左右 |
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计数方式 |
数字滤光片计数处理 |
X射红发生部
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X射线管 |
Rh靶 |
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电压 |
5-50 kV |
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电流 |
1-1000µA |
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冷却方式 |
风冷(附风扇) |
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照射面积 |
10 mm中标准 (1、3、5、10 mm中 4种自动交换) |
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1次滤光片 |
5种+ OPEN自动交换 |
环境设置
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性能保证范围 |
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温度条件 |
10℃-30℃ (温度变化在2℃以内) |
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j显度条件 |
40%-70%(不结霜) |
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电源 |
AC100~240V， 2A， 带地线插座外围设备(打印机、PC、显 器等)的电源需要另行配备。 |
利用专用滤光片提高灵敏度/还可以进行高灵敏度的无卤素分析
标准配备了5种滤光片，可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线，提高检测灵敏度。本装置在RoHS/ELV分析中会自动选择3种最合适的滤光片，进行高灵敏度测定
| 滤光片 | 代表性测定元素 |
| #1 | C1 |
| #2 | Cr |
| #3 | Hg，Pb，Br，Bi |
| #4 | Cd |
| #5 | 用于单个滤光片测定 |
定量分析：校准曲线法、FP法
校准曲线法
校准曲线法是指通过对标准样品的测定，依据×射线荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线，对未知样品进行定量的方法。校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品且需要各元素的校准曲线，但可以进行准确度高的分析。
FP法
根据理论计算而计算出X射线强度的定量方法。
对于标准样品制作困难的未知样品， FP法是有效的定量分析方法。除了适用于氧化物·金属·树脂等样品分析的块状FP法，还有用于镀层·薄膜的膜厚、组成分析的薄膜FP法。
利用薄膜FP法，除了单层膜外，还可以计算多层膜的膜厚、组成及附着量。
薄膜FP法也可有效用于镀层中Pb含量的测定。(薄膜FP法需要包含基层在内的镀层顺序和内含元素信息。)
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